Gửi tin nhắn

Hỗ trợ tối đa 5 tệp, mỗi tệp có kích thước 10M. được

Thiết bị kiểm tra quang học

Nhận báo giá

chất lượng Thiết bị kiểm tra quang học Dịch vụ

Nhà - Thể loại - Thiết bị kiểm tra quang học

Thể loại

Thiết bị phủ quang học

Thiết bị kiểm tra quang học

Photomask chất nền

Hệ thống đo lưỡng chiết

yếu tố quang học

Thiết bị lắng đọng lớp nguyên tử

Máy phún xạ Magnetron

Thiết bị phát hiện khuyết tật bề mặt

Máy hoàn thiện từ tính

Thiết bị kiểm tra độ phẳng

Thiết bị kiểm tra bề mặt

Thiết bị phi tiêu chuẩn

Giải pháp dây chuyền sản xuất tự động

Hệ thống giao thoa kế laze

Bộ chuẩn trực kỹ thuật số

Thấu kính giao thoa kế

Toàn bộ 1 Các trang

sản phẩm mới nhất

Sản phẩm của chúng tôi được bán trên toàn thế giới. Bạn có thể yên tâm về toàn bộ quá trình sản xuất sản phẩm của chúng tôi.

Trung Quốc Hệ thống đo lưỡng chiết suất cường độ ứng suất Thiết bị kiểm tra quang học Thời gian thực

Hệ thống đo lưỡng chiết suất cường độ ứng suất Thiết bị kiểm tra quang học Thời gian thực

Trung Quốc Vết trầy xước Bụi Thiết bị kiểm tra quang học Máy dò bề mặt bán dẫn 1.8μM

Vết trầy xước Bụi Thiết bị kiểm tra quang học Máy dò bề mặt bán dẫn 1.8μM

Trung Quốc Thiết bị kiểm tra quang học ZEIT Phản xạ đèn Hình dạng wafer Độ phẳng bề mặt Phát hiện khuyết tật

Thiết bị kiểm tra quang học ZEIT Phản xạ đèn Hình dạng wafer Độ phẳng bề mặt Phát hiện khuyết tật

Trung Quốc Bước sóng vận hành 633 Nm Thiết bị kiểm tra quang học Máy kiểm tra độ phẳng

Bước sóng vận hành 633 Nm Thiết bị kiểm tra quang học Máy kiểm tra độ phẳng

Trung Quốc Thiết bị phát hiện đo lường lưỡng chiết suất phân phối ứng suất theo thời gian thực

Thiết bị phát hiện đo lường lưỡng chiết suất phân phối ứng suất theo thời gian thực

Trung Quốc Thiết bị hệ thống đo lường lưỡng chiết VIS 520nm 590nm 650nm

Thiết bị hệ thống đo lường lưỡng chiết VIS 520nm 590nm 650nm

Trung Quốc Thiết bị phát hiện bề mặt chất bán dẫn làm trầy xước bụi Độ phân giải 1.8μM

Thiết bị phát hiện bề mặt chất bán dẫn làm trầy xước bụi Độ phân giải 1.8μM

Trung Quốc Hệ thống dò bề mặt bán dẫn Thiết bị kiểm tra quang học 40x

Hệ thống dò bề mặt bán dẫn Thiết bị kiểm tra quang học 40x