Giao thoa kế laser ngang khẩu độ lớn Ф300mm
Khu vực ứng dụng
Hệ thống kiểm tra cổng kép；
Để đo chất lượng bề mặt của thành phần quang học khẩu độ lớn;
Để đo tính đồng nhất quang học của vật liệu;
Để đo nhiều chất lượng bề mặt của thành phần tấm song song;
Phân tích độ chính xác bề mặt thành phần và xử lý ngày quang học.
nguyên tắc làm việc
Bằng cách phát ra hai vạch giao thoa vuông góc với nhau (một là tia laze phun, tia kia là
chùm tia laze tham chiếu ) để chiếu chúng vào bề mặt vật thể (để đo đường bao phẳng).Khi ma co
là những dao động trên bề mặt vật thể, chùm tia laser tiêm dịch chuyển theo sự thay đổi khoảng cách, điều này
gây ra sự thay đổi pha của cả hai chùm tia và tạo thành ảnh giao thoa laser.sau đó kết hợp
với sự hỗ trợ của thước kẻ cách tử hoặc máy quét mảng tuyến tính, có thể thu được thông tin tham số,
chẳng hạn như hình dạng và kích thước bề mặt đối tượng.
Đặc trưng
| Người mẫu | INF-HL-300 |
|
khẩu độ rõ ràng |
Ф300mm |
| Chế độ chuyển pha | Dịch chuyển pha điều chỉnh bước sóng |
|
Độ phân giải CCD |
Điểm ảnh 1,2K*1,2K |
| TF | PV ≤ λ/20 |
| Độ chính xác của hệ thống | PV ≤ λ/15 |
|
Độ chính xác lặp lại của hệ thống |
RMS ≤ λ/2000(2σ) |
| Lưu ý: Sản xuất tùy chỉnh có sẵn. | |
Lợi ích sản phẩm
→ Hệ thống kiểm tra cổng kép và công nghệ hình ảnh xuất sắc
→ Cấu hình ngang, dễ vận hành và sử dụng
→ Hệ thống phân tích mở khóa pha điều chỉnh bước sóng
Lợi ích của chúng ta
Chúng tôi là nhà sản xuất.
Chúng tôi đã và đang thực hiện các Dự án lớn về Khoa học và Công nghệ Quốc gia Trung Quốc.
Chúng tôi đã và đang thực hiện các dự án kỹ thuật Laser lớn của Quốc gia Trung Quốc.
Thành viên tiếng TrungHội quang học
phó giám đốc đơn vịTiến bộ về Laser & Quang điện tử.
Thành viên củaTrung Quốc thử nghiệm liên minh hợp tác chiến lược
Trả lời trong vòng 24 giờ làm việc.
Chứng nhận ISO của chúng tôi
Các bộ phận của bằng sáng chế của chúng tôi
Các phần của giải thưởng và trình độ R&D của chúng tôi
Sản phẩm của chúng tôi được bán trên toàn thế giới. Bạn có thể yên tâm về toàn bộ quá trình sản xuất sản phẩm của chúng tôi.
